Microsistema eletroquímico de varredura (SECM)

Sistema de microscópio eletroquímico de varredura AC (ac-SECM)

Sistema de microscópio eletroquímico de varredura de contato intermitente (ic-SECM)

Sistema de teste de impedância eletroquímica de microzona (LEIS)

Sistema de teste de vibração de varredura (SVET)

Sistema de varredura de microgotas de eletrólito (SDS)

Sistema de varredura de microgotas de eletrólito AC (ac-SDS)

Sistema de teste de sonda Kelvin de varredura (SKP)

Sistema de teste de morfologia microrregular sem toque (OSP)

Excelente desempenho

O sistema de localização de circuito fechado rápido e preciso foi especialmente projetado para as necessidades de pesquisa em nanoescala de sondas de varredura eletroquímica. Em combinação com a tecnologia híbrida de 32 bits da Uniscan, os usuários podem escolher a melhor configuração para o estudo experimental adequado

Plataforma de trabalho avançada e flexível

O sistema oferece nove tecnologias de sonda, tornando a M470 a plataforma de trabalho de escaneamento eletroquímico mais flexível do mundo.

Acessórios completos

7 módulos opcionais, 3 diferentes pools de eletrólise, uma variedade de sondas, microscópio de longa distância e software de análise de dados de pós-processamento.

Características do M470

Curvas de processamento automático SECM

CUSTOMIZAÇÃO DO USUARIO DEL SECM PARA MUDAÇÕES DE PASSO DE CURVA DE PROCESSO

Leitura de alta resolução

Ajuste de fase manual ou automático

O M470 também possui as seguintes características:

Correção de inclinação

Redução da curva X ou Y (polinómio de quinta ordem)

Alterações rápidas de Fourier em 2D ou 3D

Classificação automática de experimentos, movimentos de sondas e desenhos de áreas

Motor de Sequência Experimental Gráfico (GESE)

Suporte para varredura multiregional

Visualização múltipla de dados para todos os experimentos

Análise do pico

O M470 é um sistema de sonda de varredura de quarta geração desenvolvido pela Uniscan Instruments com especificações mais elevadas e mais tecnologia de sonda.

Parâmetros técnicos do M470

Estação de trabalho (todas as tecnologias)

Alcance de varredura (x, y, z) maior que 100 mm

Resolução do controlador de varredura até 0,1 nm

Codificador linear de atraso zero para leitura direta de deslocamentos x, z e y em tempo real

Resolução do eixo (x, y, z) 20nm

Velocidade máxima de digitalização 12.5mm/s

Resolução de medição 32-bit decodificador @ até 40MHz

Piezoelétrica (tecnologia de sonda de varredura IC e AC)

Intervalo de vibração 20nm ~ 2μm aumento de 1nm entre picos e picos

Resolução mínima de vibração 0,12 nm (DAC de 16 bits, 4 μm)

Estensão de cristal piezoeletrônico 100μm

Resolução de posicionamento 0,09 nm (DAC de 20 bits, 100 μm)

mecânica eletrônica

Frontal de digitalização 500 x 420 x 675 mm (H x W x D)

Unidade de controle de varredura275× 450 × 400mm (H × W × D)

potência250W